可靠性试验
| 测试项目 | 试验条件 | 参考标准 | 选样数 | 判断标准 |
| 高压蒸煮试验 AC |
121°C, 29.7 psi, 100% RH 96hrs |
JESD22-A102 | 22/45/77 | 0/1 |
| 高加速老化试验 HAST |
TA =130°C,85% RH, 33.3 psi Vds=80% Spec(42V max) 96hrs |
JESD22-A110 | 22/45/77 | 0/1 |
| 高温反偏试验 HTRB |
TJ = 150°C/specified TJ(max),Vds=80%Spec 1000Hrs |
JESD22-A108 AEC-Q101 |
22/45/77 | 0/1 |
| 高温栅极反偏试验 HTGB |
TJ = 150°C/specified TJ(max) Vgs=100%Spec 1000Hrs |
JESD22-A108 AEC-Q101 |
22/45/77 | 0/1 |
| 高温高湿偏压 H3TRB |
85*C; 85% RH; Vgs-80%spec 1000V MAX.1000Hrs |
JESD22-A101 AEC-Q101 |
22/45/77 | 0/1 |
| 恒温恒湿实验 THT |
Ta = 85°C 85%RH | JESD22-A101 | 22/45/77 | 0/1 |
| 高温存储试验 HTSL |
TA=150°C，1000Hrs | JESD22-A103&A113 | 22/45/77 | 0/1 |
| 低温存储试验 LTSL |
TA=-40°C，1000Hrs | JESD22-A119A | 22/45/77 | 0/1 |
| 不偏压高速老化 UHAST |
130°C; 85% RH ; 96hrs | JESD22-A118 | 22/45/77 | 0/1 |
| 温度循环 TC |
-65°C~+150°C,Dwell=15min,1000 cycles | JESD22-A104 | 22/45/77 | 0/1 |
| 温度冲击 Ts |
-40°C~+150°C,Dwell=30min,1000 cycles | JESD22-A106 | 22/45/77 | 0/1 |
| 间歇试验 IOL |
Tj >=100°C, ton/toff = 2 min 15KcVcs |
MIL-STD750 | 22/45/77 | 0/1 |
| 功率循环 PC |
Tj >=60°C; 0.5s < ton/toff < 5s 150Kcycs |
JESD22-A122A | 22/45/77 | 0/1 |
| 耐焊接热 RSH |
Solder dip 260°C 3*10s |
JESD22A-A113 J-STD-020 |
10 | 0/1 |
| 易焊性 sD(Solder ability) |
245°C,5s，solder area>95% | JESD22-B102 | 10 | 0/1 |
